本款光譜儀採用交叉式Czerny-Turner光路設計，具有卓越的靈敏度、高SNR、高動態範圍、低熱噪訊、低雜散光以及快速光譜反應等性能優點。並能在-10~40℃溫度區間內保持可靠穩定的光譜測量。小巧的體積與優越的性能使得XS11850系列能應用於吸光度、反射率、螢光光譜、拉曼光譜等光譜學研究。
 

• 結構圖

  

• 產品特點

• 檢測範圍廣：790-1050nm
• 高解析度：解析度~0.6nm @25μm slit
• 積分時間長，信號靈敏度高
• 重現性高

• 產品參數

  型號	XS11850-790-1050
  探測器	Hamamatsu S11850
  光譜範圍	790-1050nm
  像素	2048×64 pixels
  狹縫寬度	25μm
  光譜解析度	~0.6nm
  信噪比	300：1
  波長準確性	<0.2nm
  溫度穩定性	<0.01nm/℃
  A/D 採樣	16bit
  暗雜訊	30RMS@100ms
  動態範圍	2000:1@100ms
  積分時間	1ms-65s
  USB控制介面	Micro USB
  尺寸	127×70×37.5mm
  重量	185g
  工作溫度	0~40℃
  工作濕度	0~80%