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泛用型光譜儀

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一級TEC Cooled光譜儀 XS13256

XS13256光譜儀擁有穩定的光譜訊號探測能力，可用於拉曼光譜檢測、透反輻測量、螢光光譜測量等功能。
詳細介紹
    XS13256採用背照式線陣CCD感測器，該感測器具有電阻柵結構，可實現高速傳輸。另外，此光譜儀內置TE冷卻器，在運作時可以保持恆定的元件溫度（大約5°C），使得暗雜訊可以控制在±15counts@100ms。其內部採用C-T式光路設計，透過光路的優化設計與嚴格地光學元件選型，XS13256將獲得更高的光譜解析度，並能夠消除光譜儀內部的雜散光干擾。

 

  • 產品特點

  • TE制冷設計，制冷溫度能達到5℃
  • 低暗雜訊，能夠控制在±15Counts@100ms
  • 高動態範圍，收集到更豐富的光譜資訊
  • 開放外部介面協定，可嵌入設備中
 

  • 產品參數

    型號 XS13256
    尺寸 182×109×56mm
    重量 1.19Kg
    光譜範圍 200nm-1050nm 可定製
    感測器 S13256 背照式線陣CCD
    像素 2048 pixels
    暗雜訊 ±15 counts@100ms
    訊噪比 1000：1
    解析度 視不同光譜範圍不同
    積分時間 0.1ms-65s
    通訊介面 Micro USB / RS232
    光纖介面 SMA905
    制冷溫度 5℃
    A/D 採樣 16bit
    電源規格 5V/4A
    工作溫度 5~35℃
    工作濕度 0-80%
    註：以上規格為標準配置，可根據客戶具體需求，提供定製產品

 

  • 典型光譜

不同積分時間暗雜訊


 

採用氘燈(Deuterium)搭配GBB200-1-SMA(UV-VIS-NIR寬波段光纖)量測之光譜
 

 
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