多角度光譜量測系統

多角度光譜量測系統-ARS2000

多角度光譜量測系統-ARS2000是一款可變角度穿透與反射的可擕式測量光纖光譜儀,主要應用於研究光子晶體、超材料等微納光子材料反射率、透射率、吸收率、能帶、缺陷等特性之研究。
詳細介紹

ARS2000多角度光譜量測系統是一款可變角度穿透與反射的可擕式測量光纖光譜儀,主要應用於研究光子晶體、超材料等微納光子材料反射率、透射率、吸收率、能帶、缺陷等特性之研究。亦可使用於光學元件(如:薄膜材料、玻璃、光學元件…)特定角度下透過率、反射率的程序控制測量。其搭配的手動式測量支架可達到入射角度為0°~120°,接收角度為8°~180°的350nm~1050nm透射、反射以及輻射光譜測量。內部整合的ARM嵌入式系統以及Uspectral Plus軟體,不僅方便線上測量,該系統組態Windows軟體,也將滿足客戶光譜分析的需求。
 


 

  • 產品特點

  • 專業: 滿足輻射、透射、反射、散射等精準檢測需求      
  • 方便操作:軟體操作介面簡單,產品體積小巧、易維護、性能穩定、存放方便,易於使用 
  • 即時儲存:透過USB介面即時完成資料儲存
 
 
  • 規格參數

    型號 ARS2000
    主機尺寸 230×200×110 mm
    支架尺寸 300×200×230 mm
    整機重量 3.2kg
    光譜波段 350nm~1050nm
    光纖配置 600μm UV-VIS
    嵌入式主機板 Linux系統QT介面顯示
    螢幕 7吋顯示螢幕
    鹵素燈光源 5W
    光纖輸出介面 SMA905
    積分時間 8ms-5s
    入射角度 0-120°
    接收角度 8-180°
    角度解析度 0.1°
    載物台高度 0-5cm
    光斑直徑 0.56cm
    控制軟體 嵌入式
    供電介面 AC 220V
    註: 光譜範圍可根據使用者需求客製
 

 
  • 尺寸圖

  • 應用領域

  • 光源測試
  • 鍍膜材料
  • 光子晶體
  • 液晶顯示
  • 感測器器件製備
  • 角度材料相關分析
  • 納米光學材料
 

  • 軟體操作介面
多角度光譜量測系統-ARS2000介面極其簡單,共有5個功能區域:
① 光譜顯示區
② 彩譜區域
③ 測量模式設置區域
④ 檔案操作區域
⑤ 結果顯示區域