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產品特點
- 高度整合，應用靈活；
- 高解析度；
- 豐富採樣配件：可以滿足微區成像和線上反應監控等多種複雜場景；
- 穩定性和重複性高：適合長時間檢測和監控；
- 支持單次採集、連續採集、週期採集三種工作模式；
- 軟體功能豐富：配置豐富光譜處理分析演算法且軟體支援乙腈，矽片等校準物質進行波長校準。
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規格參數
型號 Portman-785
One-stage TE-cooledPortman-785
Two-stage TE-cooled (Type A)Portman-785
Two-stage TE-cooled (Type B)尺寸 325×220×82 mm 重量 ~4.4 kg 光譜範圍 200-3200cm-1 200-3000cm-1 200-2000cm-1 光譜解析度 ~8cm-1 ~8cm-1 ~3.5cm-1 暗雜訊 <10 RMS 動態範圍 8000：1 22000：1 22000：1 積分時間 8ms-30min 雷射波長 785±1 nm，線寬≤0.2 nm 雷射功率穩定性 ≤3% P-P (@ 2hrs) 雷射壽命 10,000hrs 電源電壓 5V/4A 輸出功率 0-500mW 可調 TE Cooling溫度 one-stage (-5℃) two-stage (-25℃) two-stage (-25℃) 濾光片雷射截止深度 OD8 常規探頭工作距離 7.5mm 工作溫度 0-40℃ 工作濕度 5-80%
註：以上規格為標準配置，可根據客戶具體需求，提供客製規格。
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尺寸圖
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應用領域
- 拉曼檢測
- 原輔料鑑別
- 醫療分析
- 材料分析
- 光學實驗教學
- 特殊科研
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典型光譜
乙腈(785 nm)
測試條件：積分時間：1000 ms；雷射功率：500 mW
測試光譜：
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環己烷(785 nm)
測試條件：積分時間：1000 ms；雷射功率：300 mW
測試光譜：
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對乙醯氨基酚(785 nm)
測試條件：積分時間：1000 ms；雷射功率：500 mW
測試光譜：
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矽片(785 nm)
測試條件：積分時間：3000 ms；雷射功率：500 mW
測試光譜：
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