QNet是一款高性能深致冷型光纖光譜儀，採用-25°C熱電（TEC）深度致冷技術，具備高訊噪比、低背景雜訊及寬動態範圍，可有效提升微弱光訊號的偵測能力，特別適用於長時間積分及高靈敏度光譜量測。
QNet可搭配雷射、鎢鹵素燈、氘燈等多種光源，廣泛應用於紫外至近紅外光譜分析、拉曼光譜、螢光量測及吸收光譜等應用。內建 Gigabit Ethernet（RJ45）與RS232通訊介面，並提供24PIN擴充控制介面，可整合光源控制、功率回授、外部觸發及系統自動化控制，適用於科研分析、工業檢測、環境監測及智慧量測系統。
QNet可搭配雷射、鎢鹵素燈、氘燈等多種光源，廣泛應用於紫外至近紅外光譜分析、拉曼光譜、螢光量測及吸收光譜等應用。內建 Gigabit Ethernet（RJ45）與RS232通訊介面，並提供24PIN擴充控制介面，可整合光源控制、功率回授、外部觸發及系統自動化控制，適用於科研分析、工業檢測、環境監測及智慧量測系統。
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產品特點
- -25°C深度TEC致冷，有效降低暗電流與背景雜訊，提升微弱光訊號偵測能力。
- 1024×58 Pixels CCD感測器，提供優異的靈敏度與量測穩定性。
- 18-bit A/D高解析度數位轉換，動態範圍最高可達36000：1。
- 高訊噪比（SNR≥1500：1），適用於拉曼、螢光及低光強度量測。
- 低雜散光（約0.3%），提升光譜分析精度。
- 提供10、25、50、100、200 μm 狹縫選擇，兼顧光譜解析度與光通量。
- 支援單次、連續、軟體觸發、同步外部觸發及異步外部觸發等多種採集模式。
- 內建Gigabit Ethernet（RJ45）、RS232與24PIN擴充介面，方便系統整合及遠端控制。
- 內建DAC／ADC控制功能，可控制配套光源、調整光強並提供功率回授。
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規格參數
| 型號 | QNet |
| A/D採樣 | 18-bit |
| CCD讀出雜訊1 | ≤7 RMS |
| 動態範圍2 | 36,000：1 |
| 訊噪比3 | ≥1500：1 |
| 積分時間 | 8 ms～30 min |
| 採集模式 | 單次、連續、軟體觸發、同步外部觸發、非同步復位外部觸發 |
| 回應線性度4 | ≥98% |
| 光纖介面 | Key-SMA905 |
| 檢測器 | 1024 × 58 Pixels CCD |
| 雜散光 | 約0.3% |
| 光纖插拔一致性 | ≤7% |
| 通訊介面 | RJ45、RS232 |
| 擴充介面 | 24PIN |
| 尺寸 | 174 × 110 × 58 mm |
| 工作溫度 | 0～40°C |
| 工作濕度 | 20～85% RH |
| 1. CCD讀出雜訊：最小積分時間下量測之 CCD讀出雜訊均方根值（RMS）。 2. CCD動態範圍：動態範圍為 最小積分時間情況，（飽和值-暗噪基線）/CCD 讀出雜訊的標準差，評價方法參照如海標準。 3. 訊噪比（SNR）：評估與計算方式依據如海標準。 4. 回應非線性度係指校正前 |
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產品配置
| 規格 | 光譜範圍/nm | 光譜解析度/nm | ||||
| 起始 波長 |
截止 波長 |
10 µm | 25 µm | 50 µm | 100 µm | |
| QNet-350-1100 | 350 | 1100 | - | 1.60 | 2.20 | 3.50 |
| QNet-795-1030 | 790 | 1030 | - | 0.60 | - | 0.90 |
| QNet-790-930 | 790 | 930 | - | 0.50 | 0.80 | 0.85 |
| QNet-535-625 | 535 | 625 | - | 0.25 | 0.35 | 0.70 |
| QNet-190-980 | 190 | 980 | 1.30 | 1.80 | 2.20 | 3.50 |
| QNet-650-800 | 650 | 800 | 0.30 | - | - | 0.76 |
備註：
1. 以上為標準預配置機型。訂購時可依QNet-起始波長-截止波長-狹縫寬度的命名方式確認產品規格，例如：起始波長350nm、截止波長1100nm、狹縫寬度50μm，型號表示為QNet-350-1100-50。
2. 可依實際應用需求選擇適合的光柵及狹縫配置，以獲得最佳光譜性能。如海光電可依客戶需求進行光學模擬與評估，協助確認最適合的光柵、狹縫及光譜儀配置。
3. 表列光譜解析度為參考值，實際規格可能因光學配置及製造公差而有所差異。
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尺寸圖
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應用領域
微弱拉曼光譜與螢光分析
QNet具備高訊噪比及低背景雜訊，適用於石墨烯、碳奈米管等新材料研究，以及生物醫學檢測、生命科學及藥物研發等微弱拉曼散射與螢光光譜分析，可提供實驗室等級的高靈敏度量測能力。
QNet具備高訊噪比及低背景雜訊，適用於石墨烯、碳奈米管等新材料研究，以及生物醫學檢測、生命科學及藥物研發等微弱拉曼散射與螢光光譜分析，可提供實驗室等級的高靈敏度量測能力。
光學薄膜與材料特性分析
QNet適用於高精度光學鍍膜、OLED顯示面板及光伏組件的研發與製程，可進行薄膜厚度、反射率及透射率等光譜特性分析，協助提升材料品質與製程控制。
QNet適用於高精度光學鍍膜、OLED顯示面板及光伏組件的研發與製程，可進行薄膜厚度、反射率及透射率等光譜特性分析，協助提升材料品質與製程控制。
瞬態光譜與燃燒診斷
在冶金材料分析、煤炭燃燒效率監測以及引擎燃燒診斷領域，QNet系列能夠應對瞬態光與複雜背景輻射的挑戰。
在冶金材料分析、煤炭燃燒效率監測以及引擎燃燒診斷領域，QNet系列能夠應對瞬態光與複雜背景輻射的挑戰。
環境與水質監測
針對地表水重金屬檢測、工業廢氣排放（CEMS）及海洋監測等分散式組網場景，QNet系列提供了高可靠性的遠端感知解決方案。
針對地表水重金屬檢測、工業廢氣排放（CEMS）及海洋監測等分散式組網場景，QNet系列提供了高可靠性的遠端感知解決方案。