CS200 具有散光低(~0.2%)、溫度漂移小(波長溫漂~0.1pixel/℃)等特點，適用於雷射測量、等離子體發射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等多個工業現場測量，是一款高CP值的工業級光纖光譜儀。
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產品特點
- 雜散光~0.2%
- 解析度高，最佳可達0.07nm
- 低溫漂設計，波長溫漂~0.1pixel/℃
- 可適配如海帶銷多芯密排集束光纖，光纖插拔強度一致性≤7%
- 配置紫外增強線陣CMOS檢測器，紫外光譜回應強
- CCD量化背景雜訊≤30RMS（100ms積分時間）
- 配置USB、序列多種通訊介面、24PIN交互介面、專有DAC和ADC，可實現配套光源的使能、強度控制和功率回饋
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規格參數
| 光學參數 | |
| 光纖介面 | Key-SMA905 |
| 狹縫 | 10μm、20μm、25μm、50μm、100μm、200μm (可根據客戶需求定製) |
| 檢測器 | CMOS檢測器 |
| 像素 | 2048pixels |
| 雜散光 | <0.2% |
| 波長溫漂 | ~0.1pixel/℃ |
| 光纖插拔一致性 | ≤7% |
| 功能參數 | |
| AD採樣 | 16bit |
| 資料介面 | USB2.0、RS232 |
| 擴展功能介面 | 24PIN |
| 採集模式 | 單次、連續、軟體觸發、同步外觸發、非同步重定外觸發 |
| 檢測器積分時間 | 50μs-65S |
| CCD讀出雜訊1 | ≤30 |
| CCD 動態範圍2 | 1300:1 |
| 訊噪比 | 300:1 |
| 回應線性度3 | ≥98% |
| 其他參數 | |
| 重量 | 約190g |
| 尺寸 | 75×63.5×35 mm |
| 工作溫度 | 0℃~40℃ |
| 工作濕度 | 20%-85% |
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1. 積分時間10ms，CCD 讀出雜訊的均方根 2. CCD動態範圍為2ms積分時間情況 飽和值/CCD 讀出雜訊的均方根 3. 回應非線性度為校準之前 |
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產品配置
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產品規格
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像素數
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光譜範圍
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幀率 |
光譜解析度(nm)
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Pixels
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起始波長
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截止波長
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frame/s |
10um
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25um
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50um
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CS200-200-850
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2048
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200
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850
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1.5
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CS200-350-1020
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2048
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350
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1020
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1.5 |
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8 以上為部分量產產品規格，可根據客戶需求配置波長範圍和解析度
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尺寸圖
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典型光譜
10ms 暗雜訊
.png)
暗雜訊 VS 積分時間
訊噪比
動態範圍
光譜譜線燈光譜 (200-800 nm)
光譜譜線燈光譜 (200-800 nm)
氘鹵燈 (200-800 nm)
