微區光譜測量系統

微區反射光譜測量系統

PL980近紅外二區螢光測量系統是一款可進行納米材料的螢光光譜分析研究和開發的一套光譜系統。
詳細介紹

傳統測量樣品反射率的反射光纖探頭光斑直徑最小僅能達到1-2mm左右,光斑直徑限制了樣品的大小以及光譜空間解析度,而若要獲得樣品更微小的尺度的光譜資訊,通常的做法是與顯微系統連用。微區反射光譜測量系統即是將光譜分析技術與顯微光路結合,可在微米級尺度上採集樣品的光譜資訊,廣泛應用於物理、化學、生物等行業材料光譜性能研究。


本系統採用光纖共焦照明方式,與傳統的科勒式照明相比,共焦照明方式可獲得更小的採樣直徑,即具有更高的空間光譜解析度。如下圖所示,光源經由光纖接入顯微系統,通過顯微物鏡將光斑大小壓縮至微米級別並彙聚在樣品平面,樣品產生的反射光經由顯微系統彙聚在接收光纖端面處,發射光纖端面、接收光纖端面、成像相機平面以及樣品平面四面屬於共軛關係,從而使得可以實現高精度原位光譜測量。

 


此外,系統中所用到的微區反射率轉接模組中預留一光譜通道,此通道可支援在反射率光譜基礎上拓展添加透射率測量、拉曼光譜測量或螢光光譜測量功能,實現多光譜綜合測量。



 

  • 產品特點

  • 模組設計:通過在顯微鏡中加裝拓展模組實現光譜測量,同時可在客戶現有顯微鏡基礎上定製相應檢測模組。
  • 共焦設計:光源光路與光譜儀接收光路共軸,獨特的共焦設計使得測量“所見即所得”,並且系統的雜散光可以得到有效抑制。
  • 寬光譜檢測範圍:搭配如海的光纖光譜儀,可實現200~2500nm寬光譜測量。
  • 靈活選配與升級:該系統使用於反射測量外,同時可根據客戶需求在此基礎上添加特定測量模組以達到反射、透射、拉曼、螢光等多光譜測量。
  • 高精度測量:自動移動平臺最小步進1μm,可達到微小區域光譜掃描測量。


 
  • 規格參數
光譜模組
光譜範圍 200-2500nm
光斑大小 取決於顯微鏡物鏡倍數及光纖芯徑
積分時間 1ms-65s
光源壽命

氘燈:5000hrs

鎢燈:10000hrs
顯微模組
物鏡 無限遠長工作距平場消色差金相物鏡10X 20X 50X
轉換器 內定位5孔轉換器
CCD成像 可成像
載物台

雙層機械式載物台,尺寸:210mm×140mm;

移動範圍:63mm×50mm
落射照明系統 6V30W鹵素燈,亮度可調
調焦結構 粗微調同軸,配有限位裝置和鎖緊裝置
粗動行程每圈:30mm,微調手輪格值2μm
整機參數
尺寸

拉曼模組:160×140×42mm

顯微模組:550×280×380mm
工作溫度 0-45
工作濕度 5%-80%




  • 測試實例